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          日本理學波長色散X射線熒光光譜儀

          簡要描述:波長色散X射線熒光光譜儀在材料科學、地質學、環境監測、金屬分析等領域得到廣泛應用。它提供了一種快速、準確、無損的方法來確定樣品中各種元素的含量,幫助科學家和工程師進行研究和質量控制。

          • 產品型號:ZSX Primus III+
          • 廠商性質:代理商
          • 更新時間:2023-10-07
          • 訪  問  量:2096

          詳細介紹

          品牌其他品牌行業專用類型其它
          價格區間面議儀器種類臺式/落地式
          應用領域環保,能源
            一、產品描述:
           
            X射線管位于分析樣品上方,zui大程du減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風險,并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡便。
           
            可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率,使粉末和金屬樣品的樣品處理量達到理想狀態。
           
            該光譜儀使用波長色散技術,通過將入射的X射線束通過晶體進行衍射,使不同能量的X射線在探測器上形成不同位置的信號峰。這些信號峰對應于不同元素的特定能級躍遷。通過測量這些信號峰的強度和位置,可以確定樣品中各種元素的含量。
           
            波長色散X射線熒光光譜儀在材料科學、地質學、環境監測、金屬分析等領域得到廣泛應用。它提供了一種快速、準確、無損的方法來確定樣品中各種元素的含量,幫助科學家和工程師進行研究和質量控制。
           
          二、特點:
           
            1、實現粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析
           
            3、高精度定位樣品臺滿足合金分析高精度要求
           
            3、特殊光學系統減少樣品表面不平而引起的誤差
           
            4、樣品室可簡單移出方便清潔
           
            5、操作界面簡潔、自動化程度高
           
            三、 產品性能
           
            Rigaku ZSX Primus III +以很少的標準在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素。
           
            1、高于光學元件的管道,可靠性更高
           
            ZSX Primus III +具有創新的光學上述配置。由于樣品室的維護,再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間。
           
            2、高精度樣品定位
           
            樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對于要求高精度的應用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用*的光學配置進行高精度分析,旨在最大限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差,如熔融珠和壓制顆粒
           
            3、使用EZ-scan軟件的SQX基本參數
           
            EZ掃描允許用戶在未事先設置的情況下分析未知樣品。節省時間功能只需點擊幾下鼠標并輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,它可以提供最準確,最快速的XRF結果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應,包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質和不同樣品尺寸的二次激發效應。使用匹配庫和完mei的掃描分析程序可以提高準確度。
           
            四、特征:
           
            1、元素從O到U的分析
           
            2、管道上方的光學器件使污染問題最小化
           
            3、占地面積小,使用的實驗室空間有限
           
            4、高精度樣品定位
           
            5、特殊光學元件可減少曲面樣品表面造成的誤差
           
            6、統計過程控制軟件工具(SPC)
           
            7、吞吐量可以優化疏散和真空泄漏率
           

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