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分析檢測儀器

PYGC鄰苯檢測儀 X射線衍射儀美國TA熱重分析儀步琦制備色譜系統德國蔡司三坐標測量機導通電阻測試系統絕緣電阻測試系統 RoHS2.0檢測儀器輝光放電發射光譜儀紅外測溫儀冰點，傾點，凝點，濁點半導體參數分析儀材料膜厚儀標準樣品

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錫膏測厚儀
SPI3D-AH錫膏測厚儀：錫膏印刷是SMT生產道工序，許多的質量缺陷都與錫膏印刷質量有關。監測錫膏的厚度和變化趨勢，不但是提高質量降低返修成本的關鍵手段，而且是滿足ISO質量體系對過程參數監測記錄的要求，提高客戶對生產質量信心的重要措施。

更新時間：2024-04-09型號：SPI3D-AH訪問量：704

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日本Otsuka顯微分光膜厚儀
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學常數） 1點1秒高速測量顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外至近紅外）區域傳感器的安全機制易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數分析獨立測量頭對應各種inline客制化需求支持各種自定義

更新時間：2023-10-07型號：OPTM SERIES訪問量：1108

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日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學常數） 1點1秒高速測量顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外至近紅外）區域傳感器的安全機制易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數分析獨立測量頭對應各種inline客制化需求支持各種自定義

更新時間：2023-10-06型號：訪問量：751

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